發明專利舉發
智慧財產及商業法院行政判決
113年度行專訴字第2號
民國113年10月16日辯論終結
原 告 費西產品設計研發有限公司
代 表 人 陳冠名
訴訟代理人 林冠佑律師
張尚宸律師
被 告 經濟部智慧財產局
代 表 人 廖承威
訴訟代理人 劉聖尉
參 加 人 黃秀媛
上列當事人間發明專利舉發事件,原告不服經濟部中華民國112年11月6日經法字第11217307620號訴願決定,提起行政訴訟,並經本院命參加人參加訴訟,判決如下:
主 文
一、訴願決定及原處分關於「請求項1至13舉發不成立」部分均
撤銷。
二、被告就發明第I630405號「雷射干擾器」專利舉發事件(案
號:106112442N01)應作成「請求項1至13舉發成立,應予
撤銷」之審定。
三、訴訟費用由被告負擔。
事實及理由
甲、程序方面
參加人經合法通知(卷二第33頁),無正當理由於言詞辯論
期日未到場,核無民事訴訟法第386條各款所列情形,依行
政訴訟法第218條準用民事訴訟法第385條第1項前段規定,
准原告及被告聲請,由到場之當事人辯論而為判決(卷二第
59頁)。
乙、實體方面
壹、爭訟概要:
參加人於民國106年4月13日以「雷射干擾器」申請發明專利
,經被告編為第106112442號審查,准予專利,並發給發明
第I630405號專利證書(下稱系爭專利,申請專利範圍共10
項)。110年4月9日原告以系爭專利違反核准時專利法第22
條第1項第1款及第2項規定提起舉發;參加人旋於同年7月9
日提出系爭專利更正本(更正後申請專利範圍共13項)。案
經被告審查,以112年4月14日(112)智專三㈡04181字第112
20344890號專利舉發審定書為「110年7月9日之更正事項,
准予更正」、「請求項1至13舉發不成立」之處分(下稱原
處分)。原告不服前揭舉發不成立部分提起訴願,經濟部於
112年11月6日以經法字第11217307620號訴願決定書(下稱
訴願決定)予以駁回,原告不服提起本訴。本院認為本件判
決結果將影響參加人之權利或法律上之利益,依職權命參加
人獨立參加本件訴訟(卷一第331至332頁)。
貳、原告主張及聲明:
一、系爭專利之基礎原理來自先前西元1989年已存在之雷射測速
技術,及針對雷射測速技術所相應而生之測速對策裝置。依
系爭專利請求項1之解釋結果,系爭專利係以間斷地發射複
數干擾脈波,使「重疊」於入射脈波(雷射偵測器反射之入
射脈波)為技術手段,其中所謂重疊之意義,係在雷射偵測
器接收脈波之「同一時域上」發生重疊。又系爭專利請求項
1之技術特徵已為甲證2第[0026]、[0049]、[0050]段或甲證
4第[0039]、[0057]、[0059]、[0101]段所揭露而不具新穎
性,亦為甲證2及甲證4組合所示前揭段落內容所揭露而不具
進步性。而系爭專利請求項3之技術特徵為甲證2第[0050]段
、甲證4第[0057]、[0059]段及甲證6第9頁第2行、圖1內容
所揭露。被告雖將「部分重疊」、「完全重疊」視為系爭專
利請求項1、3之技術特徵,然系爭專利說明書第[0011]段之
說明,可知系爭專利最終目的是在追求「干擾脈波與入射脈
波每次都能完全重疊,以達到完全阻斷之效」,無論是干擾
脈波重疊於入射脈波1/2或3/4以上之重疊程度差異,都只是
在追求完全重疊過程中的必然現象,並非為達特定目的而實
施之技術特徵。甲證2第[0050]段「in phase with」之用語
,已揭露系爭專利請求項1干擾脈波「重疊、重和、疊加地
」於入射脈波之技術特徵。系爭專利請求項得由爭點所示證
據組合證明不具進步性,系爭專利並未合乎取得申請發明專
利之要件,應當撤銷。
二、聲明:訴願決定及原處分均撤銷;被告就系爭專利應為舉發
成立撤銷專利權之審定。
參、被告答辯及聲明:
一、原處分已載明原告所提證據組合不足以證明系爭專利不具進
步性之理由,其中甲證2之發明目的係要達成改善產生干擾
脈波的硬體電路,與系爭專利發明目的不同,並未揭露或教
示入射脈波與干擾脈波得以部分重疊,原告以系爭專利兩脈
波僅部分重疊能由證據2輕易推導完成,恐有後見之明疑慮
。又甲證4並未明確揭露干擾與入射脈波可以重疊之技術特
徵,所屬技術領域中具有通常知識者無動機將甲證4技術內
容簡單修飾而完成系爭專利之發明。而關於系爭專利請求項
1所載「該複數干擾脈波間斷地各於該複數入射脈波之間隔
時間內發射、且各持續至重疊於其中一該入射脈波」之解釋
方式,「持續至重疊」一語除可解釋包含系爭專利圖6之干
擾與入射脈波為「部分重疊」之情況外,亦可解釋為包含兩
脈波為「完全重疊」之情況。
二、聲明:駁回原告之訴。
肆、參加人經合法通知未於準備程序及言詞辯論期日到場,惟提
出書狀陳稱:系爭專利請求項1界定「該複數干擾脈波間斷
地各於該複數入射脈波之間隔時間內發射、且各持續至重疊
於其中一該入射脈波」之技術特徵,未被任一證據所揭露,
尤其是「干擾脈波間斷地於入射脈波之間隔時間內發射」之
技術特徵,與證據所揭露in phase with之「脈波完全重疊
」而不會有「干擾脈波提前於入射脈波發射」至「部分重疊
」的現象,系爭專利具專利要件而未違反核准時專利法之規
定。原告之訴無理由,應予駁回等語。
伍、爭點(卷二第18至19頁):
一、系爭專利請求項1有關「複數干擾脈波……各持續至重疊於
其中一該入射脈波」技術特徵之解釋?
二、甲證2或甲證4是否足以證明系爭專利請求項1不具新穎性?
三、甲證2及4之組合是否足以證明系爭專利請求項1、6不具進步
性?
四、甲證2、4及6之組合是否足以證明系爭專利請求項2至5、11
至13不具進步性?
五、甲證1、2及4之組合是否足以證明系爭專利請求項7不具進步
性?
六、甲證1、2、4及6之組合是否足以證明系爭專利請求項8至10
不具進步性?
陸、本院判斷:
一、系爭專利申請日為106年4月13日(審定卷第19頁),於107
年3月26日經審定准予專利,是系爭專利有無撤銷原因,應
以核准審定時之106年1月18日修正公布、同年5月1日施行之
專利法(下稱核准時專利法)為斷。而核准時專利法第22條
第1項第1款及第2項規定:「(第1項)可供產業上利用之發
明,無下列情事之一,得依本法申請取得發明專利:申請
前已見於刊物者。……(第2項)發明雖無前項各款所列情事
,但為其所屬技術領域中具有通常知識者依申請前之先前技
術所能輕易完成時,仍不得取得發明專利」。再依同法第71
條第1項第1款規定,發明有違反第22條規定之情事,任何人
得附具證據,向專利專責機關舉發之。準此,系爭專利有無
違反核准時專利法第22條第1項第1款及第2項規定情事,依
法應由舉發人即原告附具證據證明之。
二、系爭專利技術分析:
㈠系爭專利技術內容
系爭專利係關於一種雷射干擾器,包括:一光接收器,供接
收一包括複數入射脈波之入射雷射光並產生一與該複數入射
脈波相關聯之入射光訊號;一光發射器;一處理單元,依據
該入射光訊號計算該複數入射脈波之相鄰二者之間的間隔時
間、且驅動該光發射器產生一干擾雷射光,該干擾雷射光包
括複數干擾脈波,該複數干擾脈波間斷地各於該複數入射脈
波之間隔時間內發射、且各持續至重疊於其中一該入射脈波
(系爭專利摘要,卷一第441頁)。
㈡系爭專利申請專利範圍(系爭專利圖式如附件一所示)
系爭專利核准公告之請求項共10項,其中請求項1為獨立項
,其餘為附屬項。專利權人即參加人於110年7月9日提出說
明書及申請專利範圍更正本,經被告審定准予更正(更正後
請求項共13項,以下請求項均指更正後內容),各請求項內
容如下:
⒈請求項1:一種雷射干擾器,包括:一光接收器,供接收一包
括複數入射脈波之入射雷射光並產生一與該複數入射脈波相
關聯之入射光訊號;一光發射器;一處理單元,依據該入射
光訊號計算該複數入射脈波之相鄰二者之間的間隔時間、且
驅動該光發射器產生一干擾雷射光,該干擾雷射光包括複數
干擾脈波,該複數干擾脈波間斷地各於該複數入射脈波之間
隔時間內發射、且各持續至重疊於其中一該入射脈波。
⒉請求項2:如請求項1所述的雷射干擾器,其中該干擾脈波之
振幅大於該入射脈波之振幅,該光接收器連接於一電路板,
該電路板之一側設有一金屬罩,該金屬罩遮罩該光接收器。
⒊請求項3:如請求項1所述的雷射干擾器,其中各該干擾脈波
持續至重疊於其中一該入射脈波之1/2以上,該光接收器連
接於一電路板,該電路板之一側設有一金屬罩,該金屬罩遮
罩該光接收器。
⒋請求項4:如請求項1所述的雷射干擾器,其中該干擾雷射光
之發射訊號頻率與該入射雷射光之發射訊號頻率相同,該光
接收器連接於一電路板,該電路板之一側設有一金屬罩,該
金屬罩具有一跨隙,該跨隙跨過該電路板之一電路。
⒌請求項5:如請求項1所述的雷射干擾器,其中該複數入射脈
波之數量至少為3個,該光接收器及該光發射器連接於一電
路板,該電路板之一側設有一金屬罩,該金屬罩遮罩該光接
收器;該金屬罩具有一跨隙,該跨隙跨過該電路板之一電路
,該濾波透鏡設於一外殼,該光接收器及該光發射器設於該
外殼中。
⒍請求項6:如請求項1所述的雷射干擾器,其中該處理單元包
括一與該光接收器通聯之第一級放大器、一與該第一級放大
器通聯之第二級放大器、一與該第二級放大器通聯之處理器
,該處理器與該光發射器通聯,該第一級及第二級放大器處
理該入射光訊號成一放大訊號,該處理器依據該放大訊號間
隔時間、且驅動該光發射器產生該干擾雷射光。
⒎請求項7:如請求項6所述的雷射干擾器,其中該第一級放大
器為電晶體放大器,該第二級放大器為視頻放大器,該處理
單元另包括一通聯於該視頻放大器與該處理器之間的比較器
,該比較器設有一閥值,該比較器僅允許經該視頻放大器處
理後之放大訊號大於該閥值的峰部部分通過,該等峰部部分
中之相鄰二者之間間隔該間隔時間。
⒏請求項8:如請求項7所述的雷射干擾器,其中該閥值設為該
放大訊號之電壓值、電流值或振幅值,該光接收器連接於一
電路板,該電路板之一側設有一金屬罩,該金屬罩遮罩該光
接收器,該金屬罩具有一跨隙,該跨隙跨過該電路板之一電
路。
⒐請求項9:如請求項1所述的雷射干擾器,其中於該光接收器
之前方另設有一濾波透鏡,該濾波透鏡僅允許700奈米至950
奈米波長的光通過,該濾波透鏡設於一外殼,該光接收器及
該光發射器設於該外殼中。
⒑請求項10:如請求項8所述的雷射干擾器,其中該光接收器包
括至少一光電二極體,該光發射器包括至少一雷射二極體;
該光電二極體具有一介於40度至80度之光接收角,該雷射二
極體具有一介於15度至45度之光發射角;該干擾雷射光與該
入射雷射光之發射訊號頻率相同,該干擾雷射光與該入射雷
射光之波長介於850奈米至910奈米之間,該發射訊號頻率介
於100赫茲至600赫茲之間;該干擾脈波之振幅大於該入射脈
波之振幅;各該干擾脈波持續至重疊於其中一該入射脈波之
3/4以上;該複數入射脈波之數量至少為3個,該干擾雷射光
相對地於其前三個入射脈波之後發射;於該光接收器之前方
另設有一濾波透鏡,該濾波透鏡為塑材且僅允許700奈米至9
00奈米波長的光通過,該光接收器及該光發射器連接於一電
路板,該電路板之一側設有一金屬罩,該金屬罩遮罩該光接
收器;該金屬罩具有一跨隙,該跨隙跨過該電路板之一電路
,該濾波透鏡設於一外殼,該光接收器及該光發射器設於該
外殼中。
⒒請求項11:如請求項2所述的雷射干擾器,其中該處理單元包
括一與該光接收器通聯之第一級放大器、一與該第一級放大
器通聯之第二級放大器、一與該第二級放大器通聯之處理器
,該處理器與該光發射器通聯,該第一級及第二級放大器處
理該入射光訊號成一放大訊號,該處理器依據該放大訊號間
隔時間、且驅動該光發射器產生該干擾雷射光。
⒓請求項12:如請求項3所述的雷射干擾器,其中該處理單元包
括一與該光接收器通聯之第一級放大器、一與該第一級放大
器通聯之第二級放大器、一與該第二級放大器通聯之處理器
,該處理器與該光發射器通聯,該第一級及第二級放大器處
理該入射光訊號成一放大訊號,該處理器依據該放大訊號間
隔時間、且驅動該光發射器產生該干擾雷射光。
⒔請求項13:如請求項4所述的雷射干擾器,其中該處理單元包
括一與該光接收器通聯之第一級放大器、一與該第一級放大
器通聯之第二級放大器、一與該第二級放大器通聯之處理器
,該處理器與該光發射器通聯,該第一級及第二級放大器處
理該入射光訊號成一放大訊號,該處理器依據該放大訊號間
隔時間、且驅動該光發射器產生該干擾雷射光。
三、爭點所示舉發證據:
㈠甲證1(舉發證據4)係西元1998年8月11日公告之美國第5793
477號「使雷射測速器失效之系統」專利案(圖式如附件二
所示)。
㈡甲證2(舉發證據2)係西元2003年11月6日公開之美國第2003
/0206286A1號「雷射轉發器」專利案(圖式如附件三所示)
。
㈢甲證4(舉發證據3)係西元2014年8月28日公開之美國第2014
/0240161A1號「脈波轉發器反制裝置」專利案(圖式如附件
四所示)。
㈣甲證6(舉發證據5)係西元1992年9月9日公告之中國大陸第1
018209B號「用激光來檢測和記錄違反道路交通規則的系統
」專利案(圖式如附件五所示)。
㈤前揭證據公告或公開日均早於系爭專利申請日(西元2017年4
月13日),可為系爭專利之相關先前技術。
四、爭點分析:
㈠系爭專利請求項1有關「複數干擾脈波……各持續至重疊於其中
一該入射脈波」技術特徵,應解釋為「各干擾脈波與各入射
脈波在時域上至少部分重疊」,且該入射脈波包含「反射之
入射脈波」(即反射脈波),並未排除二者完全重疊之情形
:
⒈關於系爭專利請求項1界定之「複數干擾脈波……各持續至重疊
於其中一該入射脈波」技術特徵,原告主張其與說明書第[0
011]段內容所載相左,且對通常知識者而言,並無雷射光「
重疊」或「持續至重疊」等概念(卷一第18頁);被告原稱
由系爭專利說明書前述內容及請求項1記載,可知請求項1已
限定為「脈波部分重疊」,並排除「脈波完全重疊」的情況
,嗣認亦可包含「完全重疊」之情況(卷一第301至302頁、
第551頁)。
⒉由系爭專利請求項1記載之「該複數干擾脈波間斷地各於該複
數入射脈波之間隔時間內發射、且各持續至重疊於其中一該
入射脈波」內容,特別是「間隔時間」與「各持續至重疊」
等語詞與上下文,可知前述內容旨在描述干擾脈波與入射脈
波在時域(時間)上的關係,所屬技術領域中具有通常知識
者即會將前述文義理解為:複數個干擾脈波出現於複數個入
射脈波的間隔時間內,且各個干擾脈波所持續之時間(即脈
波寬度持續時間)係與各入射脈波相互重疊,並未排除「完
全重疊」之情形。
⒊復參照系爭專利說明書第[0003]段(卷一第445頁)記載「習
知之雷射干擾器一般是在收到該偵測器之雷射光後,透過連
續發射一干擾雷射光來覆蓋『反射之雷射光』。然而此類習知
技術並未針對該偵測器之雷射光的波長、訊號發射頻率、振
幅等性質進一步分析比對,效果較差」,以及第[0011]段(
卷一第447頁)記載「該干擾雷射光21之發射訊號頻率與該
入射雷射光40之發射訊號頻率相同,確保同步干擾該雷射偵
測器接收『反射之入射雷射光』。該干擾脈波22之振幅較佳大
於該入射脈波41之振幅,以有效覆蓋該入射脈波41。各該干
擾脈波22持續至重疊於其中一該入射脈波41之1/2以上,較
佳為重疊3/4以上、甚至『完全重疊』,以完全阻斷、干擾該
雷射偵測器接收『反射之入射雷射光』……」,可知雷射干擾器
之原理係使干擾脈波早於(或同時於)「反射之入射雷射光
」(即反射脈波)為測速槍所接收,藉此干擾測速槍偵測到
正確數值。系爭專利即藉由與入射脈波相同頻率之干擾脈波
,間斷地於各入射脈波間隔時間內發出,使各干擾脈波至少
部分重疊或覆蓋入射脈波(或反射脈波),以達精確干擾之
目的,而二者彼此相重疊的程度(另可參系爭專利圖6,卷
一第458頁),前述說明書內容明確記載可為1/2、3/4,並
包含「完全重疊」之情形,益見系爭專利請求項1之「重疊
」解釋上不能逕予排除「完全重疊」之情形。
⒋據上,系爭專利請求項1有關「複數干擾脈波……各持續至重疊
於其中一該入射脈波」技術特徵,應解釋為「各干擾脈波與
各入射脈波在時域上至少部分重疊」,即各干擾脈波與各入
射脈波二者之脈波寬度持續時間至少部分相互重疊,且該入
射脈波包含「反射之入射脈波」(即反射脈波),並未排除
二者完全重疊之情形。
㈡甲證2或甲證4不足以證明系爭專利請求項1不具新穎性:
⒈甲證2不足以證明系爭專利請求項1不具新穎性:
⑴查甲證2圖1及說明書相對應內容(第[0026]至[0031]段,卷
一第179頁;中譯見卷一第189頁)揭露一種雷射轉發器(1)
,可發射干擾雷射信號至雷射測速器(7),且該雷射轉發器(
1)具有光學接收器(2)、光學發射器(6)及微處理器(4)等構
件,即分別對應揭露系爭專利請求項1之雷射干擾器包括「
光接收器」、「光發射器」及「處理單元」等構件。其中,
甲證2說明書第[0029]段記載「雷射測速器7所發射之監測雷
射信號8由光學接收器2接收。該光學接收器將該監測雷射信
號傳送至監測信號轉換器3後,該監測信號轉換器便將該信
號轉換為電監測信號9,並將該電監測信號傳送至微處理器4
」,意即甲證2之光學接收器(2)接收來自於雷射測速器(7)
之入射雷射光(為特定頻率並包含有複數脈波,參甲證2圖3
或第[0048]段,卷一第190頁),並透過轉換器(3)將之轉換
為相對應電監測信號(9),即對應揭露系爭專利請求項1之「
一光接收器,供接收一包括複數入射脈波之入射雷射光並產
生一與該複數入射脈波相關聯之入射光訊號」技術特徵。甲
證2說明書第[0031]段(卷一第189頁)記載「該微處理器將
該電監測信號處理為具有所選第二頻率之電干擾信號10,並
將此信號傳送至干擾信號轉換器5,該干擾信號轉換器將該
電干擾信號轉換為干擾雷射信號11後,便由光學發射器6發
射該干擾雷射信號至該雷射測速器」,另甲證2圖3及說明書
第[0049]段(卷一第190頁)記載「由二條虛線所標示之時
窗具有等於∆t1之時段。該干擾信號中之脈波列必須在此時
窗所標示之時段內發射,以確保該雷射測速器能依其自身之
預期,在所述時段內偵測到並顯示所述脈波列,並因而將所
接收之脈波列解讀為其所發射之監測脈波列之反射」,即對
應揭露系爭專利請求項1之「一處理單元,依據該入射光訊
號計算該複數入射脈波之相鄰二者之間的間隔時間、且驅動
該光發射器產生一干擾雷射光,該干擾雷射光包括複數干擾
脈波,該複數干擾脈波間斷地各於該複數入射脈波之間隔時
間內發射」技術特徵。
⑵據上,前述甲證2圖3等處所揭示技術內容與系爭專利請求項1
之差異僅在於「該複數干擾脈波……各持續至重疊於其中一該
入射脈波」技術特徵。另甲證2第[0050]段(卷一第190頁)
記載「在一有利實施例中,該干擾信號係以與該監測脈波列
同相之方式(in phase with)發射,以確保各干擾脈波列皆
可在預期之時段內被接收」,前述內容既揭露干擾信號與監
測脈波「同相/同相位」,即指二信號在時域上完全重疊,
業已揭露前述差異技術特徵。
⑶原告雖主張甲證2前述技術內容足以證明系爭專利請求項1不
具新穎性云云。惟新穎性之審查,應就申請專利之發明與單
一先前技術單獨比對,不得就該發明與多份引證文件中之全
部或部分技術內容的結合,亦不得以一份引證文件中之部分
技術內容的結合進行比對(參核准審定時專利審查基準第二
篇第三章第2.3.2節)。系爭專利請求項1之全部技術特徵,
固已為甲證2圖3及說明書第[0050]段等處所共同揭露,然觀
諸甲證2圖3顯示干擾脈波雖在監測脈波之間隔時間內發射,
但干擾脈波與監測脈波「並未」重疊;第[0050]段則記載「
在一有利實施例中……同相之方式……」,指干擾脈波與監測脈
波同步,二者在時域上「完全重疊」,與圖3明顯分屬不同
實施例或實施態樣,自不能擷取甲證2說明書第[0050]段與
圖3之內容相互結合後,據以認定系爭專利請求項1不具新穎
性,故甲證2不足以證明系爭專利請求項1不具新穎性。
⒉甲證4不足以證明系爭專利請求項1不具新穎性:
⑴查甲證4圖1及說明書第[0039]段(卷一第212頁,中譯見卷一
第226頁)揭露有一種反制轉發器(110),包含有光學接收器
(140)用以接收量測裝置(100)所發射且由放大器(142)加以
放大為量測脈波(對應於系爭專利之「入射脈波」),以及
用以發射干擾信號至量測裝置(100)之光學發射器(145/150)
,對應揭露系爭專利請求項1之「一種雷射干擾器,包括:
一光接收器,供接收一包括複數入射脈波之入射雷射光並產
生一與該複數入射脈波相關聯之入射光訊號」與「一光發射
器」技術特徵;甲證4說明書第[0051]段(卷一第213頁,中
譯見卷一第227頁)記載「根據本發明之一實施例,該反制
轉發器可辨識並干擾量測信號之有限序列。有限序列量測裝
置具有一組固定之信號,該序列中各信號之維度可根據一組
預定之變化而改變。例如,信號維度可有(n)種變化,而在
完成第(n)種維度變化後,信號循環便會重複,並從第1種變
化開始……」,另依甲證4說明書第[0039]段(卷一第212頁,
中譯見卷一第226頁)記載「反制轉發器110包含中央處理單
元(CPU)或數位信號處理器(DSP)155,且該CPU或DSP係連接
至多個周邊元件……」、第[0041]段(卷一第213頁,中譯見
卷一第227頁)記載「……該反制轉發器可根據一量測裝置之
信號特徵辨識該量測裝置,並在預期之時窗內發射干擾信號
……」及圖3等相關內容,可知甲證4之反制轉發器係以中央處
理單元(155)來計算入射脈波之間隔時間,並驅動光學發射
器(145/150)產生干擾信號,對應揭露系爭專利請求項1之「
一處理單元,依據該入射光訊號計算該複數入射脈波之相鄰
二者之間的間隔時間、且驅動該光發射器產生一干擾雷射光
,該干擾雷射光包括複數干擾脈波」、「該複數干擾脈波間
斷地各於該複數入射脈波之間隔時間內發射」技術特徵。
⑵另甲證4說明書第[0057]段(卷一第214頁,中譯見卷一第228
頁)記載「根據本發明之實施例,該反制轉發器可辨識並干
擾經程式化後可辨識及忽略形狀與回射信號之預期形狀不同
之干擾信號之量測裝置……例如,該反制裝置發送所謂誘餌信
號,例如一矩形信號,其目的係令反射信號與遮蔽信號重疊
(overlap),並因而呈現矩形。該量測裝置會將該反射信號
視為假信號而加以忽略……」內容,可知甲證4揭露將干擾脈
波與反射脈波(即反射之入射脈波)相互重疊,使得量測裝
置(即測速槍)無法正確量測,對應揭露系爭專利請求項1
之「該複數干擾脈波……各持續至重疊於其中一該入射脈波」
技術特徵。
⑶據上,系爭專利請求項1之全部技術特徵固然已見於甲證4前
述內容,惟甲證4第[0057]段記載遮蔽信號與反射信號相互
重疊,與甲證4圖3及其相對應段落揭露干擾脈波(2B)未與反
射脈波(2’)重疊,顯然分屬不同實施例,不能將之相互結合
後據以認定系爭專利請求項1不具新穎性,故甲證4不足以證
明系爭專利請求項1不具新穎性。
㈢甲證2及4之組合足以證明系爭專利請求項1、6不具進步性:
⒈系爭專利請求項1分別與甲證2、4比對,甲證2、4各已揭露系
爭專利請求項1之全部技術特徵,俱如前述。甲證2、4之技
術內容均為雷射干擾器,屬相同技術領域;且二者均以有效
干擾測速器為其所欲解決之問題或目的;又二者所採取之技
術手段,均為偵測測速器之入射脈波後,由處理器驅動光發
射器發出干擾脈波,使測速器無法正確判別車輛速度,是就
光接收器、處理器及光發射器等相同硬體構件,及其產生干
擾脈波之功能、作用等具有共通性。甲證2第[0050]段教示
或建議「該干擾信號係以與該監測脈波列同相之方式(in ph
ase with)發射,以確保各干擾脈波列皆可在預期之時段內
被接收」;甲證4說明書第[0057]段亦教示將「反射信號與
遮蔽信號重疊(overlap)」,使量測裝置會將反射信號視為
假信號而加以忽略(另參甲證4第[0058]至[0060]段等,卷
一第228頁);是以,所屬技術領域中具有通常知識者為使
測速器無法正確量測車輛速度,當有合理動機組合甲證2、4
所教示或建議之技術內容,使干擾信號與反射信號(經反射
之入射信號)在時域上相互重疊,進而輕易完成系爭專利請
求項1之發明;況且甲證2、4之不同實施例,各已共同揭露
系爭專利請求項1之全部技術特徵,俱如前述,則對所屬技
術領域中具有通常知識者而言,將同一先前技術中不同實施
例之內容相互組合,亦屬顯而易見。故甲證2、4之組合足以
證明系爭專利請求項1不具進步性。
⒉參加人主張系爭專利請求項1界定「干擾脈波間斷地於入射脈
波之間隔時間內發射」之技術特徵,而甲證2、4既揭露脈波
完全重疊,不會如系爭專利有干擾脈波提前於入射脈波發射
至「部分重疊」的現象云云(卷一第321至322頁)。惟如前
述,甲證2圖3及說明書第[0049]段,與甲證4第[0041]段等
,均揭露「干擾脈波間斷地於入射脈波之間隔時間內發射」
技術特徵;又如前述技術特徵之解釋,干擾脈波至少部分重
疊之「入射脈波」,包含「反射之入射脈波」(即反射脈波
);意即在「干擾脈波間斷地於入射脈波之間隔時間內發射
」前提下,干擾脈波在時域上至少部分重疊(甚或完全重疊
)於反射脈波,二者並無衝突。復依甲證2第[0050]段及甲
證4第[0057]段等內容,均揭示將干擾脈波與「反射脈波」
完全重疊,以使量測裝置無法正確量測速度,可見不論干擾
脈波之發射時間是否間隔於入射脈波,重點仍在於干擾脈波
需提前或重疊於「反射脈波」(系爭專利說明書第[0011]段
亦如是說明)到達雷射偵測器,方能達成有效干擾之目的。
是既甲證2、4均已教示相關技術手段,且所屬技術領域中具
有通常知識者有動機結合甲證2、4及其不同實施例,即足以
證明系爭專利請求項1不具進步性。
⒊系爭專利請求項6係依附於請求項1,其所界定之附屬技術特
徵如前所述。查甲證4說明書第[0039]段(卷一第226頁)記
載「反制轉發器110包含中央處理單元(CPU)或數位信號處
理器(DSP)155,且該CPU或DSP係連接至多個周邊元件,包
含:可視需要而設置之放大器142……;用以接收量測裝置100
所發射且已由放大器142加以放大之量測脈波之光學接收器1
40……;及至少一個用以發射干擾信號至量測裝置100之光學
發射器或轉發器(145,150)……。各發射器(145,150)可視
需要而包含發散透鏡147,藉以加大該干擾信號命中目標量
測裝置(其位置未知)之機率」(另參甲證4圖1),甲證4
前述中央處理單元(155),以及與中央處理單元(155)相連接
之光學接收器(140)、放大器(142)、光學發射器(150),即
分別對應揭露前述附屬技術特徵之處理器、光接收器、第一
/第二級放大器、光發射器,是以前述附屬技術特徵已為甲
證4所揭露。又甲證2、4之組合足以證明系爭專利請求項1不
具進步性,俱如前述,是以甲證2、4之組合亦足以證明系爭
專利請求項6不具進步性。
㈣甲證2、4及6之組合足以證明系爭專利請求項2至5、11至13不
具進步性:
⒈系爭專利請求項2係依附於請求項1,其所界定之附屬技術特
徵如前所述。查甲證4第[0099]段(卷一第230頁)記載「該
反制轉發器將針對其所接收之每個脈波發送兩個脈波以為回
應:第一脈波具有與所接收之脈波相同之振幅,且反映出吾
人希望被量測到之假想速度,第二脈波則具有相對較大之振
幅,且將由該量測裝置於其所預期之反射脈波抵達時間點接
收,因而有效遮蔽該反射信號」即揭露以振幅較入射脈波為
大之第二脈波作為干擾脈波;又以金屬罩進行電磁屏蔽以避
免干擾,乃係電子或通訊技術領域之一般通常知識,甲證6
圖1亦揭露一種雷射發射器與接收器,甲證6說明書第9頁第7
至10行(卷一第251頁)記載「……光敏二極管(5)和與其相連
接的前置放大器(7)都裝在鐵或其它能起電磁屏蔽的屏蔽罩(
9)內,保護接收器免受激光器電源及其它外部所產生的干擾
……」,即已揭露利用金屬屏蔽罩(9)來保護接收器,對應於
前述附屬技術特徵有關金屬罩之技術特徵。甲證2、4之組合
足以證明系爭專利請求項1不具進步性,已如前述;甲證6所
揭示之技術內容係關於雷射測速器,與甲證2、4均為相同技
術領域,且以雷射發射器、接收器與電信號間的轉換進行速
度量測或反制,於功能或作用上具有共通性,甲證6既教示
金屬屏蔽罩可保護接收器避免受外部干擾,則所屬技術領域
中具有通常知識者基於甲證2、4之技術內容,為避免受電磁
干擾,當有合理動機組合甲證6之金屬屏蔽罩,進而輕易完
成系爭專利請求項2所界定之發明。故甲證2、4及6之組合足
以證明系爭專利請求項2不具進步性。
⒉系爭專利請求項3係請求項1之附屬項,其所界定之附屬技術
特徵如前所述。查甲證2第[0050]段揭露干擾信號與監測脈
波係「同相」,即指兩信號「完全重疊」而為「重疊1/2以
上」;另甲證4圖1(卷一第206、220頁)已揭露光學接收器
(140)、中央處理單元(155)等電子元件,則將電子元件藉由
電路板相互連接實屬必然。甲證6說明書第9頁第7至10行(
卷一第251頁)記載「……光敏二極管(5)和與其相連接的前置
放大器(7)都裝在鐵或其它能起電磁屏蔽的屏蔽罩(9)內」,
已揭露利用金屬屏蔽罩(9)來保護接收器。是以,系爭專利
請求項3之前述附屬技術特徵,已為甲證2、4、6所揭露。甲
證2、4之組合足以證明系爭專利請求項1不具進步性,已如
前述。對所屬技術領域中具有通常知識者而言,其基於甲證
2、4所揭露之技術內容,為避免光接收器受電磁干擾,當有
合理動機組合甲證6之金屬屏蔽罩,進而輕易完成系爭專利
請求項3所界定之發明。故甲證2、4及6之組合足以證明系爭
專利請求項3不具進步性。
⒊系爭專利請求項4係請求項1之附屬項,其所界定之附屬技術
特徵如前所述。查甲證2第[0050]段揭露干擾信號與監測脈
波係「同相」,即指兩信號之頻率相同;另甲證6圖1及說明
書第9頁第7至10行揭示利用屏蔽罩(9)來遮蔽接收器,避免
受電磁干擾,如金屬罩(屏蔽罩(9))內之電子元件欲與外
部其他元件相連,或為便於接收外部信號,勢必需於金屬罩
開孔(即前述附屬技術特徵之「跨隙」),如甲證6之光敏
二極管(5)即需藉由屏蔽罩(9)之孔洞始能接收光線(參甲證
6圖1,卷一第257頁),是以前述附屬技術特徵已為甲證2、
6所揭露。甲證2、4之組合足以證明系爭專利請求項1不具進
步性,業如前述。因甲證2、4、6均屬相同技術領域,就功
能、作用等亦具共通性(詳如前述請求項2、3之理由),且
甲證6教示金屬屏蔽罩可保護接收器避免受外部電磁干擾,
則所屬技術領域中具有通常知識者基於甲證2、4之技術內容
,為避免受電磁干擾時,當有合理動機組合甲證6之金屬屏
蔽罩,進而輕易完成系爭專利請求項4所界定之發明。故甲
證2、4及6之組合足以證明系爭專利請求項4不具進步性。
⒋系爭專利請求項5係依附於請求項1,其所界定之附屬技術特
徵如前所述。查甲證2第[0061]段(卷一第190頁)記載「……
該程式將進行控制,以判定其是否已在給定的時段內偵測到
三個脈波列……」,甲證4第[0051]段(卷一第227頁)記載「
根據本發明之一實施例,該反制轉發器可辨識並干擾量測信
號之有限序列。有限序列量測裝置具有一組固定之信號,該
序列中各信號之維度可根據一組預定之變化而改變。例如,
信號維度可有(n)種變化,而在完成第(n)種維度變化後,信
號循環便會重複,並從第1種變化開始……」,即揭露量測裝
置所發出之入射脈波係有限序列而有多種可能;另甲證6圖1
顯示前置放大器(7)等電子元件為屏蔽罩(9)(相當於系爭專
利之金屬罩)所遮蔽,並另有聚焦鏡片(18)、鏡頭(3)設於
外殼(1)中,當金屬罩(屏蔽罩(9))內之電子元件欲與外部
其他元件相連或為接收信號之必要,勢必需於金屬罩開孔(
即前述附屬技術特徵之「跨隙」),如甲證6之光敏二極管(
5)需藉由屏蔽罩(9)之孔洞始能接收光線,是以前述附屬技
術特徵已為甲證2、4、6所揭露。又甲證2、4之組合足以證
明系爭專利請求項1不具進步性,及甲證2、4、6間具有組合
動機,俱如前述,則甲證2、4及6之組合亦足以證明系爭專
利請求項5不具進步性。
⒌系爭專利請求項11至13,係分別依附於請求項2至4,並均界
定「其中該處理單元包括一與該光接收器通聯之第一級放大
器、一與該第一級放大器通聯之第二級放大器、一與該第二
級放大器通聯之處理器,該處理器與該光發射器通聯,該第
一級及第二級放大器處理該入射光訊號成一放大訊號,該處
理器依據該放大訊號間隔時間、且驅動該光發射器產生該干
擾雷射光」之附屬技術特徵。查甲證4說明書第[0039]段(
卷一第226頁)記載「反制轉發器110包含中央處理單元(CP
U)或數位信號處理器(DSP)155,且該CPU或DSP係連接至
多個周邊元件,包含:可視需要而設置之放大器142……;用
以接收量測裝置100所發射且已由放大器142加以放大之量測
脈波之光學接收器140……;及至少一個用以發射干擾信號至
量測裝置100之光學發射器或轉發器(145,150)……各發射器
(145,150)可視需要而包含發散透鏡147,藉以加大該干擾
信號命中目標量測裝置(其位置未知)之機率」(另參甲證
4圖1),甲證4前述中央處理單元(155),以及與中央處理單
元(155)相連接之光學接收器(140)、放大器(142)、光學發
射器(150),即分別對應揭露前述附屬技術特徵之處理器、
光接收器、第一/第二級放大器、光發射器,是以前述請求
項11至13之附屬技術特徵已為甲證4所揭露。甲證2、4及6之
組合足以證明系爭專利請求項2至4不具進步性,俱如前述,
是以甲證2、4及6之組合亦足以證明系爭專利請求項11至13
不具進步性。
㈤甲證1、2及4之組合足以證明系爭專利請求項7不具進步性:
⒈系爭專利請求項7係依附於請求項6,其所界定之附屬技術特
徵如前所述。甲證4之放大器(142)對應於系爭專利之第一/
第二級放大器,以及甲證2、4之組合足以證明系爭專利請求
項6不具進步性之理由,俱如前述。
⒉查甲證2圖2(卷一第185頁)揭露雷射轉發器之電路(21),甲
證2第[0032]段(卷一第189頁)記載「該電路包含五個次電
路:IR光電二極體偵測器電路22……」,第[0033]段記載「該
IR光電二極體偵測器電路之較佳者包含二個配置於典型電晶
體放大器構型28……。該放大器具有高增益(>50dB),且可放
大來自該二個光電二極體且連接ac之電監測信號」,可見甲
證2已揭露有二個電晶體放大器;甲證2第[0056]段(卷一第
190頁)另記載「為提升該程式之效能、避免處理非必要之
資料,同時提高該雷射轉發器之有效性,該電偵測信號將與
多個閾值44進行比對,該等閾值係一組界定程式邊界以辨別
所接收之信號是否為真正監測信號之數值」,前述甲證2之
「閾值」即相當於前述附屬技術特徵之比較器設有閥值,僅
允許電偵測信號符合一定臨界值始可通過,是以前述附屬技
術特徵已為甲證2所揭露。
⒊甲證1所揭露之技術內容為雷射偵測器與雷射干擾器,與甲證
2、4均相同技術領域,並均以雷射發射器、接收器與電信號
間的轉換進行速度量測或反制,於功能或作用上具有共通性
,所屬技術領域中具有通常知識者應有動機組合甲證1、2及
4之技術內容;甲證1第15欄第1段(卷一第142頁,中譯見卷
一第167頁末段至第168頁第1段)記載「該高頻放大器電路2
56具有30-50MHz之頻寬,……。放大電路256包括第一及第二
放大器258及260,該兩者共同產生放大後之雷射偵測信號。
第二放大器260包括連結至第一二極體整流器電路262之AGC
輸入。因應接收到來自計時器電路264(圖9B)之信號,第
一二極體整流器電路262觸發第二放大器260之AGC輸入,因
而關閉第二放大器260,以免雜訊觸發干擾雷射光束」,即
甲證1揭露有二個放大器,同樣對應於前述附屬技術特徵之
第一/第二級放大器,又甲證2、4之組合足以證明系爭專利
請求項6不具進步性,故甲證1、2及4之組合足以證明系爭專
利請求項7不具進步性。
㈥甲證1、2、4及6之組合足以證明系爭專利請求項8至10不具進
步性:
⒈系爭專利請求項8係依附於請求項7,其所界定之附屬技術特
徵如前所述。查甲證2第[0057]段(卷一第190頁)記載「在
圖示實施例中,該等閾值為脈波上升時間、光強度,但應瞭
解,亦可增設許多其他閾值……」,可見甲證2已教示閾值可
為不同數值之設定,而既甲證2係將雷射光訊號轉換為電訊
號(參甲證2圖1),則將閾值設定為電訊號之電壓、電流或
振幅,僅為該技術領域通常知識者所能輕易設定者;另甲證
6圖1及說明書第9頁第6至10行揭示利用金屬屏蔽罩(9)來遮
蔽接收器,避免受電磁干擾,而金屬罩(屏蔽罩(9))內之
電子元件欲與外部其他元件相連或便於接收外部信號,勢必
需於金屬罩開孔(即前述附屬技術特徵之「跨隙」),如甲
證6之光敏二極管(5)即需藉由屏蔽罩(9)之孔洞始能接收光
線(參甲證6圖1),是以前述附屬技術特徵係該技術領域通
常知識者依甲證2、6之技術內容所能簡單變更者;又甲證1
、2及4之組合足以證明系爭專利請求項7不具進步性,以及
甲證1、2及4,或甲證2、4及6間均具有組合動機俱如前述,
是以甲證1、2、4及6之組合足以證明系爭專利請求項8不具
進步性。
⒉系爭專利請求項9係依附於請求項1,其所界定之附屬技術特
徵如前所述。查甲證1第8欄第54至67行(卷一第138頁,中
譯見卷一第164頁倒數第2段)記載「……此雷射轉發器28包括
可接收入射雷射光束之光電二極體56……光電二極體56為矽光
電二極體,例如Siemens所製造之SFH 203 FA。該Siemens光
電二極體包括濾波範圍為200nM之光譜濾器,其中該濾波範
圍係以900nM波長為中心……該Siemens光電二極體之內建透鏡
31(圖4)具有相對偏小之光學受光角(例如20°),以便將
雷射偵測器30所接收之監測雷射光束信號最大化」,是以甲
證1已揭露雷射偵測器(30)(對應系爭專利之光接收器)前
方設有透鏡(31)(參甲證1圖4),且其允許波長900奈米的
雷射光通過,對應於前述附屬技術特徵有關「於該光接收器
之前方另設有一濾波透鏡,該濾波透鏡僅允許700奈米至950
奈米波長的光通過」部分;至於將濾波透鏡與光接收器、光
發射器等構件設於外殼中,僅係以外殼保護或封裝電子電路
構件之一般通常知識,如甲證6圖1即揭示以外殼(1)包覆聚
焦鏡片(18),以及光敏二極管(5)、激光發射器(10)等構件
(即光接收器、光發射器),即對應於前述附屬技術特徵有
關「該濾波透鏡設於一外殼,該光接收器及該光發射器設於
該外殼中」部分。即甲證1、6業已揭露系爭專利請求項9之
前述附屬技術特徵。甲證2、4之組合足以證明系爭專利請求
項1不具進步性,其理由俱如前述,又甲證1、6之技術內容
為雷射偵測器或雷射干擾器,與甲證2、4屬相同技術領域,
並均以雷射發射器、接收器與電信號間的轉換進行速度量測
或反制,於功能或作用上具有共通性,則所屬技術領域中具
有通常知識者當有動機組合甲證1、2、4及6,進而輕易完成
系爭專利請求項9之發明,故甲證1、2、4及6之組合足以證
明系爭專利請求項9不具進步性。
⒊系爭專利請求項10係依附於請求項8,其所界定之附屬技術特
徵如前所述。查甲證1第8欄第64至67行(卷一第138頁,中
譯參卷一第164頁)記載「光電二極體之內建透鏡31(圖4)
具有相對偏小之光學受光角(例如20°),以便將雷射偵測
器30所接收之監測雷射光束信號最大化」,即相當於前述附
屬技術特徵之光電二極體之光接收角。甲證2第[0050]段(
卷一第190頁)已揭示干擾信號與監測脈波同相,即指干擾
脈波與入射脈波頻率相同且完全重疊;甲證2第[0027]段(
卷一第189頁)記載「在一個實施例中,光發射器6是典型90
4-905nm波長的雷射二極體,而在另一實施例中則係一通常
具有870nm波長之IR二極體」;甲證2第[0055]段(卷一第19
0頁)記載「……帶通濾波器的頻帶係設定為70Hz至700Hz,使
得100Hz至600Hz的頻率(例如已知雷射測速設備之工作頻率
)得以通過」;甲證4第[0039]段(卷一第226頁)記載「……
光學接收器140……具有寬廣之波長範圍(例如400-1100nm)
,又例如SiAPD,其波長範圍為880-930nm」,前述甲證2、4
之技術內容即已揭露前述附屬技術特徵有關「該干擾雷射光
與該入射雷射光之發射訊號頻率相同,該干擾雷射光與該入
射雷射光之波長介於850奈米至910奈米之間,該發射訊號頻
率介於100赫茲至600赫茲之間」、「各該干擾脈波持續至重
疊於其中一該入射脈波之3/4以上」部分。甲證4第[0058]段
(卷一第228頁)記載「……該反制裝置亦發送參數略有不同
(例如振幅較大)之所謂干擾信號」,或第[0099]段(卷一
第230頁)記載以振幅較大的第二脈波作為干擾脈波,對應
揭露前述技術特徵「該干擾脈波之振幅大於該入射脈波之振
幅」部分。甲證2第[0061]段(卷一第190頁)記載「在步驟
46中,該程式將進行控制,以判定其是否已在給定的時段內
偵測到三個脈波列……」,之後於步驟50中進行干擾程序(參
甲證2圖4或第[0071]段,卷一第191頁),即揭露前述附屬
技術特徵有關「該複數入射脈波之數量至少為3個,該干擾
雷射光相對地於其前三個入射脈波之後發射」部分。甲證1
第8欄第54至67行(卷一第138頁,中譯見卷一第164頁倒數
第2段)記載「……此雷射轉發器28包括可接收入射雷射光束
之光電二極體56……光電二極體56為矽光電二極體,例如Siem
ens所製造之SFH 203 FA。該Siemens光電二極體包括濾波範
圍為200nM之光譜濾器,其中該濾波範圍係以900nM波長為中
心……該Siemens光電二極體之內建透鏡31(圖4)具有相對偏
小之光學受光角(例如20°),以便將雷射偵測器30所接收
之監測雷射光束信號最大化」,對應揭露前述附屬技術特徵
「於該光接收器之前方另設有一濾波透鏡,該濾波透鏡為塑
材且僅允許700奈米至900奈米波長的光通過」部分。甲證6
圖1揭示聚焦鏡片(18)、鏡頭(3)設於外殼(1)中,甲證6說明
書第9頁第7至10行(卷一第251頁)揭示利用金屬屏蔽罩(9)
來遮蔽接收器,避免受電磁干擾,而金屬罩(屏蔽罩(9))
內之電子元件欲與外部其他元件相連或為便於接收外部信號
,勢必需於金屬罩開孔(即前述附屬技術特徵之「跨隙」)
,如甲證6之光敏二極管(5)即需藉由屏蔽罩(9)之孔洞始能
接收光線(參甲證6圖1),對應揭露前述附屬技術特徵「該
光接收器及該光發射器連接於一電路板,該電路板之一側設
有一金屬罩,該金屬罩遮罩該光接收器;該金屬罩具有一跨
隙,該跨隙跨過該電路板之一電路,該濾波透鏡設於一外殼
,該光接收器及該光發射器設於該外殼中」部分。既甲證1
、2、4及6之組合足以證明系爭專利請求項8不具進步性,俱
如前述,且請求項10之附屬技術特徵亦為甲證1、2、4及6所
揭露,則甲證1、2、4及6之組合亦足以證明系爭專利請求項
10不具進步性。
柒、綜上所述,原告所提甲證2或甲證4雖不足以證明系爭專利請
求項1不具新穎性,然爭點所示證據組合足以證明系爭專利
請求項1至13不具進步性,系爭專利違反核准時專利法第22
條第2項規定,原處分關於系爭專利請求項1至13舉發不成立
之審定,即有違誤,訴願決定予以維持,亦有未洽,原告請
求撤銷訴願決定及原處分關於請求項1至13部分,並命被告
就系爭專利請求項1至13應作成舉發成立之審定,為有理由
,應予准許。
捌、本件判決基礎已經明確,當事人其餘攻擊防禦方法及訴訟資
料經本院斟酌後,核與判決結果不生影響,並無一一論述的
必要。
玖、結論:原告之訴為有理由,依智慧財產案件審理法第2條,
行政訴訟法第98條第1項前段、第218條,民事訴訟法第385
條第1項前段規定,判決如主文。
中 華 民 國 113 年 11 月 13 日
智慧財產第一庭
審判長法 官 汪漢卿
法 官 蔡惠如
法 官 陳端宜
以上正本係照原本作成。
一、如不服本判決,應於送達後20日內,向本院提出上訴狀並表
明上訴理由,其未表明上訴理由者,應於提起上訴後20日內
向本院補提上訴理由書;如於本判決宣示或公告後送達前提
起上訴者,應於判決送達後20日內補提上訴理由書(均須按
他造人數附繕本)。
二、上訴未表明上訴理由且未於前述20日內補提上訴理由書者,
逕以裁定駁回。
三、上訴時應委任律師為訴訟代理人,並提出委任書(行政訴訟
法第49條之1第1項第3款)。但符合下列情形者,得例外不
委任律師為訴訟代理人(同條第3項、第4項)。
得不委任律師為訴訟代理人之情形 所 需 要 件 ㈠符合右列情形之一者,得不委任律師為訴訟代理人 1.上訴人或其代表人、管理人、法定代理人具備法官、檢察官、律師資格或為教育部審定合格之大學或獨立學院公法學教授、副教授者。 2.稅務行政事件,上訴人或其代表人、管理人、法定代理人具備會計師資格者。 3.專利行政事件,上訴人或其代表人、管理人、法定代理人具備專利師資格或依法得為專利代理人者。 ㈡非律師具有右列情形之一,經最高行政法院認為適當者,亦得為上訴審訴訟代理人 1.上訴人之配偶、三親等內之血親、二親等內之姻親具備律師資格者。 2.稅務行政事件,具備會計師資格者。 3.專利行政事件,具備專利師資格或依法得為專利代理人者。 4.上訴人為公法人、中央或地方機關、公法上之非法人團體時,其所屬專任人員辦理法制、法務、訴願業務或與訴訟事件相關業務者。 是否符合㈠、㈡之情形,而得為強制律師代理之例外,上訴人應於提起上訴或委任時釋明之,並提出㈡所示關係之釋明文書影本及委任書。
中 華 民 國 113 年 11 月 13 日
書記官 吳祉瑩
IPCA-113-行專訴-2-20241113-3